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參考價(jià)：面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):PM100-SE

品牌:其他品牌

廠商性質(zhì):代理商

所在地:上海市

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更新時(shí)間：2025-03-13 08:18:04瀏覽次數(shù)：2615次

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產(chǎn)品分類品牌

雷博科學(xué)儀器: 太陽(yáng)能薄膜制備電鏡樣品制備溶液制備反應(yīng)釜檢測(cè)設(shè)備工業(yè)半導(dǎo)體設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

應(yīng)用領(lǐng)域	化工	快速測(cè)量	最大典型12寸晶圓（即直徑300mm)
膜厚測(cè)量范圍	15nm-75μm (對(duì)Si上的SiO2樣品)	膜層數(shù)目	1-4層
膜厚測(cè)量重復(fù)性	0.1nm(對(duì)Si上100nm的SiO2樣品)	準(zhǔn)確度	2nm或0.4%（對(duì)Si上的SiO2樣品）

膜厚檢測(cè)儀
快速測(cè)量,，僅需1-2s即可完成一次測(cè)量
大范圍膜厚測(cè)量，可測(cè)量膜厚范圍從15nm-70μm
常規(guī)操作只需點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可運(yùn)行,，操作簡(jiǎn)便
適用于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)，穩(wěn)定可靠
能夠滿足膜厚的常規(guī)測(cè)量，經(jīng)濟(jì)實(shí)用

詳情介紹

膜厚檢測(cè)儀

產(chǎn)品介紹

快速測(cè)量,，僅需1-2s即可完成一次測(cè)量
大范圍膜厚測(cè)量，可測(cè)量膜厚范圍從15nm-70μm
常規(guī)操作只需點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可運(yùn)行,，操作簡(jiǎn)便
適用于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng),，穩(wěn)定可靠
能夠滿足膜厚的常規(guī)測(cè)量，經(jīng)濟(jì)實(shí)用

產(chǎn)品參數(shù)

快速測(cè)量：最大典型12寸晶圓（即直徑300mm)
膜厚測(cè)量范圍：15nm-75μm (對(duì)Si上的SiO2樣品)
膜層數(shù)目：1-4層
膜厚測(cè)量重復(fù)性：0.1nm(對(duì)Si上100nm的SiO2樣品)
準(zhǔn)確度：2nm或0.4%（對(duì)Si上的SiO2樣品）

膜厚測(cè)試儀,，分為手持式和臺(tái)式二種,，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀,。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,，來(lái)表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚測(cè)試儀,，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,，俗稱為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值,。